臺(tai)階儀主要(yao)是對(dui)薄(bo)膜(mo)(mo)材料(liao)常規性能(neng)的厚度進(jin)行(xing)檢測。它(ta)廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)于太陽(yang)能(neng)薄(bo)膜(mo)(mo)材料(liao)、半導體硅片、微(wei)電子器(qi)件、薄(bo)膜(mo)(mo)化學涂層、平板(ban)顯示器(qi)等研究(jiu)領域。在(zai)新型薄(bo)膜(mo)(mo)材料(liao)的開(kai)發研究(jiu)工作(zuo)上極為重要(yao)。
當臺階儀的(de)(de)觸(chu)(chu)針(zhen)(zhen)在被(bei)測(ce)的(de)(de)物(wu)體表面輕輕滑過時，被(bei)接觸(chu)(chu)的(de)(de)物(wu)體表面微小(xiao)的(de)(de)峰谷就會讓觸(chu)(chu)針(zhen)(zhen)在進行滑行的(de)(de)同(tong)時也做一些上(shang)下運動。因此表面輪廓(kuo)的(de)(de)情(qing)況(kuang)在一定(ding)程度(du)上(shang)就被(bei)觸(chu)(chu)針(zhen)(zhen)的(de)(de)運動情(qing)況(kuang)所體現出來。
