單晶XRD
Bruker smart Apex、Bruker D8 Venture；只掃晶胞，100。
只測試，不解析，常溫鉬靶 400，常溫銅靶 700，常溫 Ga 靶 800， 低溫另加 100 元；
測試加解析，常溫鉬靶 800，常溫銅靶 1200，常溫 Ga 靶 1300， 低溫另加 100 元；
對于大環化合物、大孔道MOF、簇合物和主客體分子等單晶，不按常規收費，價格另議
| 單晶XRD | Bruker smart Apex、Bruker D8 Venture | 只掃晶胞，100。 只測試，不解析，常溫鉬靶 400，常溫銅靶 700，常溫 Ga 靶 800， 低溫另加 100 元； 測試加解析，常溫鉬靶 800，常溫銅靶 1200，常溫 Ga 靶 1300， 低溫另加 100 元； 對于大環化合物、大孔道MOF、簇合物和主客體分子等單晶，不按常規收費，價格另議 | 含解析，可做(zuo)低(di)溫，有鉬靶(ba)、銅(tong)靶(ba)、Ga 靶(ba) |
項(xiang)目簡介
測(ce)試目的及應用場景
單晶XRD是一種X射線衍射法，通過對單晶收集數據，解出晶體結構，得到鍵長、鍵角一系列數據。它可以精確測量晶格參數和晶胞體積，以及確定晶體中原子的位置和排列方式。
單晶XRD設備在材料科學、金屬研究、藥物研發等領域都有廣泛應用，例如：
1.在材料科學領域：研究人員可以通過單晶XRD設備確定新合成材料的晶體結構，從而研究其性質和應用；
2.在金屬研究領域：研究人員可以利用單晶XRD設備研究金屬的相變行為，以改善金屬的機械性能和耐腐蝕性；
3.在(zai)藥(yao)物(wu)研發領域：單晶XRD設備(bei)被用于(yu)藥(yao)物(wu)分子(zi)的(de)(de)結(jie)構(gou)確認和(he)(he)與目標蛋白(bai)結(jie)合(he)的(de)(de)研究(jiu)，有助于(yu)藥(yao)物(wu)分子(zi)的(de)(de)設計(ji)和(he)(he)開發。
測試原(yuan)理
單晶(jing)(jing)XRD設(she)備(bei)的(de)(de)原(yuan)理基于布拉(la)格衍射(she)(she)(she)定律(lv)。當X射(she)(she)(she)線照射(she)(she)(she)在晶(jing)(jing)體(ti)上時(shi)，晶(jing)(jing)體(ti)中的(de)(de)原(yuan)子會散(san)射(she)(she)(she)X射(she)(she)(she)線，根(gen)據布拉(la)格衍射(she)(she)(she)定律(lv)，當X射(she)(she)(she)線入射(she)(she)(she)角和(he)(he)散(san)射(she)(she)(she)角滿足一(yi)定條件(jian)時(shi)，會出現衍射(she)(she)(she)峰。通(tong)過測量衍射(she)(she)(she)峰的(de)(de)位(wei)置和(he)(he)強度(du)，可以(yi)(yi)計算出晶(jing)(jing)體(ti)的(de)(de)晶(jing)(jing)格參數(shu)、晶(jing)(jing)體(ti)結構以(yi)(yi)及晶(jing)(jing)體(ti)中的(de)(de)原(yuan)子位(wei)置。
測試步驟
此測試大體測試步驟如下（僅供參考）：
1.將待測樣品溶解于溶劑中，通過緩慢蒸發、降溫析晶、重結晶、氣相擴散等步驟，促使樣品在溶劑中逐漸趨于過飽和的狀態后，制備得到晶態樣品；
2.測量數據：用X射線衍射或電子衍射等方法對樣品進行數據收集，將X射線照射到晶體上，晶體中的原子會對X射線產生衍射，形成特定的衍射圖樣，得到晶體學數據，包括晶胞參數、空間群、原子位置、反射強度等；
3.數據處理：將測量進行積分還原、吸收校正、通過晶胞參數、消光特征、等效點判斷晶格類型、確定正確空間群，然后使用Patterson函數法、直接法、charge flipping法等求得晶胞獨立區內全部或部分原子坐標；
4.結果分析：將待測樣對計算得到的結果進行分析和驗證，結合待測物質的已知信息，把差分電荷密度圖中各個電子云峰值指認成合適的原子。把所得結構模型作為輸入文件，使用基于F2的Fourier合成或差值Fourier合成及最小二乘修正方法進行精修，精修過程將調整各個原子的位置和熱橢球參數，使得結構模型更符合實測數據。
