| X 射線衍射儀(yi)(XRD) | X'Pert PRO MPD、D8、Ultima IV、smartlab 等(deng) | 常規 5-90°: 10°/min,40 元/樣;5°/min,60 元(yuan)/樣(yang);2°/min,100 元/樣; 小角 0.5-10°:1°/min,100 元/樣(yang);0.5°/min,150 元/樣。 | 可做變溫、電化學、毛細管、微區、小角、掠入射、二維等 |
項(xiang)目(mu)簡介
測試目的及應用場景
XRD測試是一種通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構以及形態等信息的研究手段。XRD測試既可以進行定性分析也可以進行定量分析。其中定性分析可以判斷物相是否存在,可以對單一物相及混合物相進行鑒定或驗證;定量分析可以根據衍射線的強度分布情況,判斷各個物相的相對含量。
XRD測試廣泛應用于各種領域,包括材料科學、藥物研究、催化劑研究、能源產業等,例如:
1.通過XRD測試可以用于研究材料的結構和性質,如晶格常數、晶體結構、晶體缺陷等。這對于材料設計和制造過程中的質量控制非常重要;
2.通過XRD測試幫助藥物研究人員確定藥物的晶體結構,從而支持藥物開發和改進;
3.通過XRD測試可以揭示催化劑的晶體結構和表面形態,這對于了解其催化活性和選擇性非常重要;
4.通過(guo)XRD測(ce)試可以用于研(yan)究能源材料(liao),如鋰離子電池(chi)、太陽能電池(chi)等。通過(guo)分析這些材料(liao)的(de)晶體結構和(he)缺陷,可以提高(gao)它(ta)們的(de)性(xing)能和(he)壽命。
測試(shi)原理
當一束單(dan)色X射線(xian)入射到晶(jing)體時(shi),由(you)(you)于晶(jing)體是(shi)由(you)(you)原(yuan)子(zi)規則(ze)排(pai)列成的晶(jing)胞組成,這些規則(ze)排(pai)列的原(yuan)子(zi)間距離與入射X射線(xian)波長有相(xiang)(xiang)同數量(liang)級,故(gu)由(you)(you)不同原(yuan)子(zi)散射的X射線(xian)相(xiang)(xiang)互干涉,在某些特殊方(fang)(fang)向上產生強X射線(xian)衍(yan)射,衍(yan)射線(xian)在空間分布的方(fang)(fang)位和(he)強度,與晶(jing)體結(jie)構密切相(xiang)(xiang)關。
測試步驟
此測試大體測試步驟如下(僅供參考):
1.開啟冷卻水
2.開啟XRD電源
3.啟動計算機,在XRD穩定兩分鐘左右后,進入系統,將被測樣品放置在測試架上。
4.打開測試軟件,輸入實驗參數。
5.實驗條件設定以后,開始測試。




