光學輪廓儀Bruker Countor GT K 3D、基(ji)恩士 VHX-6000 等200 元/樣起膜/顆粒可以(yi)測,可以(yi)測試表面形貌、粗糙度、高度。項目簡介可以測試表面形(xing)貌、粗糙度、高(gao)度結果展示樣品要(yao)求適用于測各(ge)種膜(mo),塊體樣品,表面三維形貌;可以(yi)測凹(ao)坑深度(du),凹(ao)坑直徑范圍,膜(mo)厚度(du)等(deng);范圍可以(yi)拼接