雙波段發射率測量儀IR-2200 元/樣起可(ke)測粉(fen)末、薄膜、塊體,可(ke)測范(fan)圍:1-22 微米或者 8-14 微(wei)米。項目(mu)簡(jian)介雙波段發射率結果展(zhan)示(shi)樣品要求儀(yi)器是點源測(ce)(ce)試(即一個點測(ce)(ce)出一個數據),非全(quan)掃描,每樣品正常測(ce)(ce)9次(ci)計算(suan)得到平均值,塊體(ti):樣(yang)品直(zhi)徑3.5--4.8cm的片,厚最好1mm以上,太薄會透射,表面不(bu)要太粗糙(cao)有基底(di)的薄膜樣品,薄膜厚度最好10微米以上(shang),太薄了測試基本上(shang)不準確粉末5g,不建議(yi)用粉末測試,誤差較大