1、樣品形態：必須是薄膜（做在基底上面的薄膜也可以，基底不能有導電性），薄片，或者粉末壓片（自己壓制成合適尺寸）（一般都是半導體材料）。如果是做在基底上面的薄膜，那么薄膜要稍微厚一點，薄膜的厚度需要自己確認好，包括純薄膜的厚度以及薄片或者壓片的厚度都要確認好，到時候測試時需要輸入儀器進行計算的。
2、尺寸：8-11mm見方的圓片或者方片（最好是10mm見方的尺寸），導電層厚度在10-500nm之間最佳，整體厚度不超過2mm，樣品需要均勻、平整，不能有孔洞、褶皺等缺陷；
粉末：提供3ml體積樣品。
3、樣品電阻不要超過200MΩ；當樣品電阻超過100Ω時，需要制備金屬電極，金屬電極共四個，位于正四邊形的四個頂角處，由實驗室制作。
