| 表面光電壓譜儀 | 自制平臺 | 600 元/樣起 | 可(ke)做 200-1100nm |
項目(mu)簡介
可以測試粉末樣品(pin)、薄膜樣品(pin)、半(ban)導(dao)體(ti)、晶體(ti)的表面(mian)光電壓、表面(mian)光電流、光伏相位(波長 300~1100mm) , 瞬態表面光電壓(激光波(bo)長 355mm)
結果(guo)展示(shi)


樣品要求
1.粉末樣品需研磨成細小顆粒。(粉末樣品裝在玻璃瓶或塑料管中,請勿放在樣品袋中,
以避免靜電影響取樣) 用量:堆積體積不少于 0.3ml
2.薄膜樣品要求有一定厚度面積最好為 20mm*5mm~~40mm*15mm,類似于電化學工作電極
需要預留出一段空白導電玻璃。具體如下圖:

3. 半導體以及晶體測試需要提前引出陰陽極接頭。(薄膜,半導體、晶體只能測試表
面光電壓)