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正電子湮滅壽命譜儀

DPLS3000;2000 元/樣起

全國服務熱線:

項目簡介

正(zheng)電(dian)子(zi)湮(yin)沒(mei)(mei)技(ji)術(shu)(Positron Annihilation Technique,PAT),是(shi)一項較(jiao)新的(de)(de)(de)核物(wu)(wu)理(li)技(ji)術(shu),它利用(yong)(yong)正(zheng)電(dian)子(zi)在凝聚物(wu)(wu)質(zhi)中(zhong)的(de)(de)(de)湮(yin)沒(mei)(mei)輻射(she)帶出物(wu)(wu)質(zhi)內部(bu)的(de)(de)(de)微觀(guan)結構、電(dian)子(zi)動量分布及缺(que)(que)陷狀態等信息,從(cong)而提供一種非破壞性的(de)(de)(de)研究(jiu)手段(duan)而備(bei)受人們青睞。現在正(zheng)電(dian)子(zi)湮(yin)沒(mei)(mei)技(ji)術(shu)已經進(jin)入固體物(wu)(wu)理(li)、半導(dao)體物(wu)(wu)理(li)、金屬物(wu)(wu)理(li)、原子(zi)物(wu)(wu)理(li)、表面(mian)物(wu)(wu)理(li)、超導(dao)物(wu)(wu)理(li)、生物(wu)(wu)學(xue)、化學(xue)和(he)醫學(xue)諸多領域。特別(bie)是(shi)材(cai)料科學(xue)研究(jiu)中(zhong),正(zheng)電(dian)子(zi)對(dui)微觀(guan)缺(que)(que)陷研究(jiu)和(he)相變(bian)研究(jiu)正(zheng)發揮(hui)著日益(yi)重大的(de)(de)(de)作用(yong)(yong)。


結果展(zhan)示

 普通(tong)壽命譜

以(yi)DPLS3000型號的結(jie)果(guo)為例,不同型號的儀器導出結(jie)果(guo)有(you)所(suo)差別,以(yi)實際收到的結(jie)果(guo)為準:

解譜的壽命和強度值一般是1-4組,具體個數由樣品決定。

圖片關鍵詞

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樣品要求(qiu)

1.理想樣品尺寸(cun)12×12×2mm;直徑(jing)12×2mm(邊長/直徑(jing)>10mm,厚(hou)度>1mm)。

2.一(yi)組樣(yang)品要同樣(yang)的2片;不(bu)同樣(yang)品盡量保持(chi)在同一(yi)壓力下進(jin)行壓片(壓片后手輕捏(nie)不(bu)松(song)散就(jiu)可以(yi)了(le))。

3.粉末的(de)樣品(pin)量需要能壓(ya)成直徑大于(yu)(yu)10mm,厚(hou)度大于(yu)(yu)1mm的(de)兩個圓片。

常見(jian)問題

1. 所用放射源是什么呢?

放射源為22Na同位素(su),正電子的能量范圍為0-545 keV。實驗室從國外進(jin)口(kou)22NaCl溶(rong)液(ye)制備正電子源。

2. 樣品尺寸一般要求?

理想樣品尺(chi)寸12×12×2mm;直徑12×2mm(邊長/直接(jie)>10mm,厚度(du)>1mm),粉(fen)末可根據密度(du)乘以(yi)體積(ji)大致計算,如樣品不足,最小尺(chi)寸8×8×0.8mm左右也(ye)可以(yi)做(zuo);薄膜(mo)可敷著在無長壽(shou)命基底上測(ce)。

3. 正電子湮滅譜中壽命和濃度代表什么含義,每種壽命對應什么缺陷?

正電子(zi)壽(shou)命(ming)測量的(de)(de)(de)是(shi)孔位缺陷的(de)(de)(de)大小和濃(nong)度(du),一般來說短壽(shou)命(ming)對(dui)(dui)應(ying)的(de)(de)(de)是(shi)小空(kong)(kong)(kong)位/單孔位的(de)(de)(de)壽(shou)命(ming),中等壽(shou)命(ming)對(dui)(dui)應(ying)中等空(kong)(kong)(kong)位對(dui)(dui)壽(shou)命(ming)/體壽(shou)命(ming),長壽(shou)命(ming)對(dui)(dui)應(ying)大空(kong)(kong)(kong)位團簇(cu)/界面(mian)的(de)(de)(de)壽(shou)命(ming)。強(qiang)度(du)對(dui)(dui)于的(de)(de)(de)是(shi)空(kong)(kong)(kong)位缺陷的(de)(de)(de)濃(nong)度(du),強(qiang)度(du)越大空(kong)(kong)(kong)位越多。具體哪個(ge)壽(shou)命(ming)代(dai)表哪種空(kong)(kong)(kong)位一些是(shi)由理(li)論(lun)計算算出(chu)的(de)(de)(de),一些是(shi)實驗推理(li)出(chu)來的(de)(de)(de)。

4. 如何選擇解譜軟件以及解譜數據如何獲得?

Lifetime9.0/Melt4.0/Contin軟件,基(ji)本(ben)涵蓋(gai)了所有(you)正電子湮滅測試的解譜軟件,您可根據參考(kao)文獻選擇(ze)。所有(you)數據都是基(ji)于(yu)原始數據通過解譜軟件得(de)到(dao)的。

解(jie)譜(pu)時需要考慮到很多的變(bian)量,如(ru)放射源修正(zheng)、系統(tong)分辨(bian)扣除、本底等參(can)數(shu)(shu),通過殘差驗證是(shi)否符(fu)合(he)正(zheng)態分布模(mo)型,擬合(he)優度是(shi)否符(fu)合(he)誤差標準等因素,才能給出樣品的最優解(jie),這對解(jie)譜(pu)老師(shi)的專業水平要求很高,所(suo)以有些地方只能做(zuo)設備自帶的壽(shou)命譜(pu),如(ru)時間太長會發(fa)生(sheng)譜(pu)飄移,使得解(jie)譜(pu)參(can)數(shu)(shu)發(fa)生(sheng)變(bian)化,容易造成解(jie)譜(pu)結果失真。

5. 分立譜中理論值(實驗值)等于每一壽命值乘以所對應的強度;或者各分立壽命和相加對嗎?

該說(shuo)法不對(dui),因為沒有考慮到放射(she)源修正、扣除系統分辨、本底(di)等情況,所以不是簡單的相加。


6. 自由體積及半徑是怎么算出的?

自由體積半徑最初出現在聚合(he)物中(zhong),樣品壽(shou)命需要(yao)大于0.5ns才能計算;且解自由體積及半徑需要(yao)符合(he):o-ps的無限深球方(fang)勢阱模型[1,2]

[1] Tao S J. J.Chem.Phys., 1972(56):5499

[2] Eldrup M, Lightbody D and Sherwood J N. CHem.Phys., 1981(63):51


7. 氣體吸附與正電子湮滅測量孔徑的區別?

氣(qi)(qi)體吸附主要(yao)表征表面缺(que)陷,不能(neng)測內部缺(que)陷,與表面積有(you)很(hen)大關系;正電(dian)子(zi)湮滅表征的主要(yao)是(shi)樣品內部缺(que)陷,且測量(liang)精度高于氣(qi)(qi)體脫附。



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