X射線熒光光譜儀(XRF)
PANalytical Axios; RIGAKU ZSX Priums ; 研磨費:100 元/樣
單質模式:160 元/樣;氧化物模式:160 元/樣;單質+氧化物模式:240 元/樣
| X 射線熒光光譜儀(XRF) | PANalytical Axios; RIGAKU ZSX Priums | 研磨費:100 元/樣 單質模式:160 元/樣;氧化物模式:160 元/樣;單質+氧化物模式:240 元/樣 | 可測元素范圍:常規測試范圍 11Na-92U。 |
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法,主要用于確定材料中元素的種類和含量。XRF是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學等。