| 微區X 射線熒光光譜儀（XRF) | 帕納科ZETIUM | 具體咨詢 | 具體咨詢 |
項目簡介
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，主要用于確定材料中元素的種類和含量。XRF是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學等。
結果展示
測試結果給出的結果一般是Excel格式，且是歸一化的。
（1）鋁合金為例，單質測試結果如下表所示：
| 單質名稱 | 含量（%） |
| Al | 97.2965 |
| Mg | 1.1897 |
| Si | 0.6631 |
| Fe | 0.3688 |
| Cu | 0.2141 |
| Cr | 0.1582 |
| Mn | 0.0614 |
| Zn | 0.0259 |
| Ga | 0.0222 |
（2）高嶺土為例，氧化物測試結果如下表所示：
| 氧化物名稱 | 含量（%） |
SiO2 | 51.0484 |
Al2O3 | 45.4433 |
TiO2 | 2.1478 |
K2O | 0.3758 |
Fe2O3 | 0.3081 |
P2O5 | 0.2297 |
CaO | 0.1737 |
SrO | 0.1047 |
SO3 | 0.0942 |
ZrO2 | 0.0635 |
CuO | 0.0109 |
樣品要求
1. 樣品狀態：可為粉末、塊狀、薄膜樣品
2. 粉末樣品：粉末樣品需要至少2 g ，最好3 g以上，樣品在測試之前盡量干燥，可以過200目篩的樣品無需研磨；含碳元素含量超過10%的樣品，請先將樣品燒成灰，再測試；
3. 塊狀、薄膜樣品：塊狀樣品尺寸在2.5 ~4.5cm之間，標明測試面（表面光滑平整），塊體樣品最好平面平整光滑，上下面平行；
4. 粉末樣品只能回收剩余的樣品；
常見問題
1. 為什么要求XRF測試粉末樣品用量最好達到3 g以上？
因為需要和淀粉一起壓片做，如果樣品量太少的，需要加很多淀粉容易導致結果不準確。
2. 為什么XRF測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸直接要大于2.5 cm？
因為放置薄膜（塊體）樣品需要放進測試槽，測試槽的直徑是2.5 cm，如果樣品太小會固定不了。
3. XRF測試可以精確到多少？
XRF測試原則上可以精確到ppm級別的，但這個精度是基于標準物質的，常規的XRF測試只是半定量測試，誤差不好判斷，僅作為元素含量百分比的參考。
4. 含碳量高為什么一定要燒成灰再測試？
含碳量高，C大多數情況下是測不到的，那就在歸一化的背景里面，其他元素實際含量是扣除C以后按100%歸一的；含碳量高壓片可能會不好壓片，如果加入粘合劑那么就相當于進一步稀釋了待測元素，檢出限就提高了。所以一般含碳量高、含有機物的樣品需要燒成灰，然后再測試。
