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高性能全自動壓汞儀

AutoPore Iv 9510、AutoPore 9500 等;550 元/樣

全國服務熱線:

高性能全自動壓汞儀AutoPore Iv 9510AutoPore 9500 等(deng)550 /可分析孔徑范圍:5~340,000 nm,可分析粉末(可能誤差比較大)或者塊狀樣品

項目簡介

             測試目的及應用場景


壓汞法(Mercury intrusion porosimetry 簡稱MIP),又稱汞孔隙率法,是測定部分中孔和大孔孔徑分布的方法。其主要用來測定粉末和固體重要的物理特性,如孔徑分布、總孔體積、總孔表面積、中值孔徑、樣品的密度(真密度和堆密度)、流體導電性和機械性能。
壓汞儀應用廣泛,在很多領域都有所應用,例如:
1.壓汞儀常在材料科學與工程中使用,用來檢測混凝土、砂漿等的孔隙率,用以表征混凝土內部的氣孔等指標;

2.在油藏的(de)物(wu)理模擬試驗中,用(yong)來(lai)繪(hui)制(zhi)毛細管壓(ya)力(li)曲線(xian),可以(yi)用(yong)來(lai)描述多(duo)項(xiang)儲(chu)層(ceng)的(de)特(te)征,特(te)別(bie)是多(duo)孔介(jie)質的(de)孔隙(xi)吼道大小分布。


測試原理

汞對(dui)大多數固(gu)體材(cai)料(liao)具有(you)非(fei)潤濕性(xing),需外(wai)加壓力(li)才(cai)能進入(ru)固(gu)體孔(kong)中,對(dui)于(yu)圓柱型(xing)孔(kong)模型(xing),汞能進入(ru)的(de)孔(kong)的(de)大小與壓力(li)符合Washburn方(fang)程(cheng),控制(zhi)不同的(de)壓力(li),即可測出壓入(ru)孔(kong)中汞的(de)體積(ji),由(you)此(ci)得到對(dui)應(ying)于(yu)不同壓力(li)的(de)孔(kong)徑(jing)大小的(de)累(lei)積(ji)分布曲線(xian)或微分曲線(xian)。


測試(shi)步驟

此(ci)測(ce)試大體測(ce)試步驟如下(僅供參考):

1、打開電腦,然后打開氮氣開關機壓汞儀開關;
2、打開軟件;
3、稱取樣品質量,將樣品轉入膨脹計,密封,稱量;
4、將稱量好的膨脹計放入低壓倉;
5、在軟件界面選擇低壓測試,填寫相關信息,進行低壓測試;
6、低壓測試結束后,將注入汞的膨脹計放入高壓倉,準備進行高壓測試;
7、在軟件界(jie)面選擇高壓測試(shi),填寫相關信息,進行高壓測試(shi)。



結果展示(shi)

結果內容:一般提供的格式文件有三種:一種為源文件;一種為excel或txt,其內容為可自行作圖的數據;最后一種為pdf,其內容為測試的結果報告。

結果示例:不同的儀(yi)器型(xing)號測試(shi)(shi)結果有(you)所(suo)差別,以(yi)下(xia)為麥克儀(yi)器測試(shi)(shi)結果展示,僅(jin)供(gong)參考:

(1)源文件,其(qi)格(ge)式一般(ban)為.SMP

(2)可自行(xing)作(zuo)圖的數據

圖片關鍵詞

(3)測試結果報告

圖片關鍵詞

 

 

 

樣(yang)品要求

1、樣品狀態要求:可(ke)分析粉末或者(zhe)塊狀(zhuang)/薄膜樣品(pin),

2、樣品量要求:

(1)粉末(mo)樣品(pin)量(liang)要(yao)求:最好2~3mg;

(2)塊狀樣品(pin)尺寸要求:尺寸不超(chao)過1cm*1cm*1cm,質量2~3克;

(3)薄膜(mo)樣(yang)品尺寸(cun)要求(qiu):薄膜(mo)類樣(yang)品需要疊(die)加(jia)測試,可以提供尺寸(cun)5cm×5cm一片或1cm×1cm多片。

3、其它特殊要求:容易(yi)和汞發生(sheng)反(fan)應的樣品(pin)如含重金屬等無(wu)法安排測(ce)試。

常見問(wen)題(ti)

1. 報告中的BET比表面積值是否可用?

答(da):麥克儀(yi)器的(de)壓汞測試與BET物(wu)理吸(xi)附儀(yi)軟件(jian)通用,所以(yi)壓汞數(shu)(shu)據中會(hui)存(cun)在(zai)BET比(bi)表面這個(ge)參數(shu)(shu),不是(shi)實驗(yan)測到的(de)數(shu)(shu)據,這個(ge)數(shu)(shu)值(zhi)可以(yi)忽(hu)略,老版軟件(jian)會(hui)有這個(ge)問題,新版有做調整。如果需要準確的(de)BET比(bi)表面積數(shu)(shu)據可以(yi)通過測試BET物(wu)理吸(xi)附儀(yi)得到。但是(shi)需注意BET物(wu)理吸(xi)附儀(yi)在(zai)處理微孔和(he)介(jie)孔樣品時(shi)數(shu)(shu)值(zhi)會(hui)比(bi)較(jiao)準確。

2. 測的的孔徑分布為什么比SEM圖片看到的要小或者大?

答:可(ke)能原因:第(di)一(yi)(yi),圧汞測(ce)的(de)是樣(yang)品(pin)(pin)整體的(de)孔(kong)徑分(fen)(fen)(fen)布(bu),而(er)且(qie)是樣(yang)品(pin)(pin)被壓力(li)破壞前的(de)孔(kong)徑分(fen)(fen)(fen)布(bu),而(er)SEM測(ce)的(de)是樣(yang)品(pin)(pin)表面微小區域的(de)孔(kong)徑分(fen)(fen)(fen)布(bu),而(er)且(qie)倍數太高的(de)話,SEM的(de)標尺是可(ke)能有一(yi)(yi)定(ding)誤差(cha)的(de),所以(yi)兩者可(ke)比(bi)性并不太大(da);第(di)二,可(ke)能SEM中看(kan)到的(de)目標孔(kong)在(zai)樣(yang)品(pin)(pin)中含量太低,在(zai)圧汞數據顯示的(de)峰太小,需要放大(da)才能看(kan)到,這個需要具體樣(yang)品(pin)(pin),具體分(fen)(fen)(fen)析。


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