可做項(xiang)目:TEM,STEM,EDS,Mapping,SAED,EELS
用途及功能:
形(xing)貌觀(guan)(guan)察(cha):對(dui)各(ge)種材料內部微(wei)結(jie)構進行二維(wei)顯微(wei)形(xing)貌觀(guan)(guan)察(cha),包(bao)括常見的(de)粉末(mo)、納米顆粒形(xing)貌和粒徑觀(guan)(guan)察(cha);配合三維(wei)重構可以(yi)得到三維(wei)立體形(xing)貌;
結構分(fen)析(xi):利用選(xuan)區電子衍射(she)、高分(fen)辨透射(she)圖像、高分(fen)辨掃描透射(she)圖像等分(fen)析(xi)材料(liao)的結構
成分(fen)(fen)(fen)分(fen)(fen)(fen)析(xi):配合能譜(pu)儀可(ke)以對(dui)樣品(pin)元(yuan)素做點、線、面、體分(fen)(fen)(fen)布(bu)(bu)分(fen)(fen)(fen)析(xi),可(ke)以得到原子分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)的(de)元(yuan)素面分(fen)(fen)(fen)布(bu)(bu)圖像