項目(mu)簡介可做項目：質譜(pu)、面掃、深(shen)度剖析。TOF-SIMS的數(shu)據的縱坐標是(shi)(shi)計數(shu)，是(shi)(shi)強度，不同(tong)離子(zi)的產額不同(tong)，產額高的譜峰強，并(bing)不代(dai)表含量高，簡單(dan)說就是(shi)(shi)強度和含量沒有什么直(zhi)接關系； 結果展示1、質譜+分析質譜測試：只給(gei)出校正后的圖(tu)片和TXT數據。質譜+數據處理：會給出校正后的圖片和所有的離子譜峰歸屬列表。 2、面掃+分析導出客戶指定離子的 MAPPING, 所有離子統一用Thermal 顏色:右邊的色標可以看出黑色是分(fen)布(bu)沒有的區域，黃(huang)色白(bai)色是分(fen)布(bu)較多的區域；3、深度剖析+數據分析儀器型號1：TOF-SIMS 5 iontof--快遞交替模式--深度(du)剖析(xi)深度曲(qu)線-相對應的(de)3D圖儀器型號2：PHI Nanotof 樣品要求深度剖(pou)析(xi)一(yi)般(ban)是塊(kuai)體樣品(pin)；粉末一(yi)般(ban)做質譜或者面掃，液(ye)體，生物細胞等(deng)樣品(pin)可以冷凍干燥(zao)后測試，設備無法(fa)直(zhi)接測試液(ye)體樣品(pin)。常見問題1. 質譜測試正負離子模式是什么？TOF-SIMS是(shi)采用(yong)初級(ji)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)源(yuan)(yuan)（Bi源(yuan)(yuan)）入射樣品的(de)表面(mian)激發出(chu)材料里的(de)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，通常給(gei)樣品加不同偏(pian)壓(ya)分(fen)別采集正(zheng)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)或負(fu)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，金(jin)屬(shu)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)主要(yao)在(zai)(zai)正(zheng)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)產(chan)額比較高(gao)，而電(dian)負(fu)性(xing)元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在(zai)(zai)負(fu)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)產(chan)額高(gao)，如果組分(fen)有(you)(you)金(jin)屬(shu)氧(yang)化物(wu)，比如NiO, 那一定會(hui)在(zai)(zai)正(zheng)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)產(chan)生Ni原子(zi)(zi)(zi)(zi)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，以及(ji)NixOy的(de)分(fen)子(zi)(zi)(zi)(zi)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，而負(fu)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)一定有(you)(you)O原子(zi)(zi)(zi)(zi)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，同時也(ye)有(you)(you)NixOy的(de)分(fen)子(zi)(zi)(zi)(zi)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，當(dang)然在(zai)(zai)正(zheng)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)下(xia)大多數情況 x>y, 負(fu)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)模(mo)(mo)(mo)式(shi)下(xia)x<y, 這個案例(li)中也(ye)有(you)(you)NiOH這樣的(de)離(li)(li)子(zi)(zi)(zi)(zi)，說(shuo)明有(you)(you)可能有(you)(you)氫氧(yang)化物(wu)存在(zai)(zai)。2. tof-sims可以看含量不？？應該怎么做？正常TOF-SIMS是看不了含量的，數據橫坐標是M/Z，縱坐標是強度/計數。理由如下：強度與含量是沒有直接關系的。首先，同種基材不同離子的產額不同，產額高的譜峰強度高，但并不代表含量高，也就是說譜峰強弱與含量沒有直接對應關系，如果要定量必須選用與測試樣品基體效應相同的標準樣品，得到靈敏度因子才可以定量！第二，同種離子在不同基體材料中的離子產額也不同，所以同一樣品不同離子譜峰強度與含量無關，同種離子在不同材料中的譜峰強弱也與含量無關，只有同種材料的不同樣品中的同種離子可以比較，譜峰強度高代表含量高。做深度濺射曲線可以看隨深度方向，分子片段的相對變化趨勢。3. 測試的是同樣一個位置嗎？質譜和mapping默認測試是同(tong)樣一個位(wei)置，深度(du)剖析正負離子是不同(tong)位(wei)置。
