現場測(ce)(ce)(ce)試：指南針不同(tong)城市(shi)，可以現場安排(pai)的樣品及要(yao)求(qiu)不同(tong)，具體可咨(zi)詢當(dang)地的對接人員； 寄樣測(ce)(ce)(ce)試：SEM或TEM，會(hui)給到您一(yi)個測(ce)(ce)(ce)試單(dan)，您把對應的制(zhi)樣要(yao)求(qiu)（分散劑(ji)、超聲時間(jian)、銅網等(deng)）、測(ce)(ce)(ce)試要(yao)求(qiu)（標尺、拍攝位置、形貌效(xiao)果等(deng)）、測(ce)(ce)(ce)試目的等(deng)寫清(qing)楚，測(ce)(ce)(ce)試老師會(hui)按您指定(ding)的要(yao)求(qiu)來(lai)拍

每樣(yang)品15張左右，具體根據樣(yang)品的拍(pai)攝(she)情況而定；拍(pai)攝(she)邏輯一般是選取2-3個有代表(biao)性的區(qu)域，具體區(qu)域逐級放大拍(pai)攝(she)。

JPG和(he)TIFF均(jun)是圖片格(ge)式，可以直接打開，也可以用DM軟件處理； DM3格(ge)式是Gatan公(gong)司的特有(you)格(ge)式，配(pei)有(you)DM軟件打開分析處理。

測試原理不同，TEM為圖片結果，是樣品真實形貌，其他測試由(you)曲線得(de)出的顆粒尺(chi)寸為計算值。

可(ke)能是因為(wei)其中一相的(de)晶(jing)(jing)體不是很好(hao)，拍攝時長(chang)時間照射，轉化為(wei)非晶(jing)(jing)體了，即(ji)如需(xu)在一張照片里拍出兩種晶(jing)(jing)格，需(xu)要樣品交界(jie)處結晶(jing)(jing)性較好(hao)，且耐電子(zi)束，一般雙相可(ke)以(yi)拍出，但三相較難(nan)在一張圖片里呈現

1、樣品含有(you)(you)機物(wu)或有(you)(you)磁性，高壓(ya)下抖動比較厲(li)害，很難(nan)抓拍出(chu)好的效果(guo)；

2、樣品顆粒大且厚，沒有薄區；（備注：一般看形貌，要(yao)求樣品厚(hou)度(du)小于100nm，看高分辨或(huo)晶格，樣品厚(hou)度(du)要(yao)小于5-10nm）

3、襯度不好

備注：TEM襯度是指在正焦或微微欠焦狀(zhuang)態下樣品的(de)(de)清晰(xi)度，即樣品跟背景的(de)(de)反(fan)差(cha)，主要影響(xiang)因素有：

（1）樣(yang)品厚度（越(yue)薄越(yue)好，要求100nm以(yi)下）；

（2）樣品含有(you)的元(yuan)素(su)序(xu)數(shu)（元(yuan)素(su)序(xu)數(shu)大的好(hao)一些）；

（3）電鏡自身分辨率(lv)；

（4）部(bu)分分散劑如甲苯、丙(bing)酮(tong)等(deng)，也會導致襯(chen)度較(jiao)低(di)）。

高(gao)分辨比常規形貌，對樣品的(de)磁性、厚(hou)度、穩定性等要求更(geng)高(gao)，影(ying)響(xiang)也更(geng)大。

1、樣品結晶(jing)性不好，晶(jing)格就(jiu)會不清(qing)楚；

2、襯度不好(hao)，襯度是指樣品跟背景(jing)的(de)(de)(de)反差，金(jin)、銀等(deng)金(jin)屬的(de)(de)(de)晶格(ge)會相對強一(yi)些，但像碳之類的(de)(de)(de)，晶格(ge)會弱一(yi)些，一(yi)般晶格(ge)不清楚都(dou)是輕的(de)(de)(de)元素(su)，重的(de)(de)(de)元素(su)還好(hao)；

3、儀器(qi)本身原因，無(wu)法控制，高(gao)倍下圖片(pian)一直在(zai)抖，不(bu)是保持不(bu)變，老師根據(ju)經驗抓(zhua)拍，一般(ban)會多(duo)拍幾(ji)張篩(shai)選后數據(ju)才發過來；

4、對(dui)高(gao)分辨(bian)(bian)要(yao)求較高(gao)，比如要(yao)求2nm晶格(ge)且(qie)分辨(bian)(bian)率很高(gao)，建議嘗試(shi)球差(cha)，常規電鏡一(yi)般可(ke)拍攝最(zui)小標尺5nm左右，實際(ji)拍攝效果(guo)跟(gen)樣品有關。

如(ru)果測試單(dan)寫(xie)明要求拍單(dan)顆或分散比較好(hao)的(de)形貌，但(dan)給(gei)到的(de)仍是(shi)團(tuan)聚圖片，多半是(shi)因為樣品團(tuan)聚比較厲害(hai)，無(wu)法(fa)超聲開，具體可與科學指南針工作人員確認。

像量子點樣品，或一個(ge)視野要求看到幾十個(ge)顆粒(li)，為方便(bian)老師測試，最好由客戶自己(ji)提供對應濃(nong)(nong)度和超聲時間（先在低(di)倍(bei)下嘗試，根(gen)據低(di)倍(bei)的圖片來調整濃(nong)(nong)度），不然測試時很難提供到合(he)適的濃(nong)(nong)度。

mapping與樣(yang)品(pin)(pin)厚度、樣(yang)品(pin)(pin)對于電子束是否敏感關(guan)系較(jiao)大

1. 樣品厚度太大，mapping掃不出信號(hao)，一般300-30nm比較好(hao)；

2. 樣品是有機物（不建(jian)議做MAPPING，做高分辨也不是很(hen)合適，容易(yi)被電(dian)子束打壞(huai)），掃久了會積碳，會拍不了；

3. 樣(yang)品是磁性樣(yang)品，能(neng)(neng)譜分(fen)1代(dai)能(neng)(neng)譜和2代(dai)能(neng)(neng)譜，因(yin)為磁性樣(yang)品對儀器有損傷，一(yi)(yi)般愿(yuan)意給拍(pai)磁性樣(yang)品的(de)儀器會(hui)相對老一(yi)(yi)些，配的(de)能(neng)(neng)譜基(ji)本都是1代(dai)能(neng)(neng)譜，馬賽克(ke)點比較(jiao)大，較(jiao)糊。

1. 未包覆成功或者包覆很少，拍攝時候很難找到包覆層形貌；

2. 樣品顆(ke)粒太大(da)，厚度較厚，很(hen)難拍攝到。

1、將(jiang)tif等(deng)圖片格(ge)式的TEM照片拖入(ru)DM軟件(jian)，然后轉換圖片格(ge)式（Edit-Change Date Type-Integer,4-一直點(dian)確認）； 

2、軟件內標尺的確認。先(xian)用虛線(xian)照圖中原有標尺畫一條同等長度的線(xian)，然后(hou)（Analysis-Calibrate-看圖操作）；

3、FFT（傅(fu)里(li)葉）變換：按(an)住Ctrl+Alt,畫一(yi)個虛線框(kuang)(kuang)，再將框(kuang)(kuang)拖至你所要分析(xi)的圖片位置(zhi)，然后（Process-FFT）； 

4、Inverse FFT:在FFT圖中右鍵（選擇要分析的是點，環等），然后（Process-Apply Mask-Process-Inverse FFT）； 
（PS：要(yao)獲得(de)(de)晶面間距的(de)數據就需要(yao)在(zai)反FFT的(de)圖中獲得(de)(de)）

具體可下載資料查看：

1、用虛線框(kuang)(kuang)(kuang)工具Ctrl+Alt（必須選擇2的(de)n次方的(de)面(mian)積(ji)圖(tu)(tu)形，這(zhe)影(ying)響后面(mian)的(de)FFT變換(huan)）——Ctrl+C-Ctrl+V——右鍵新建一(yi)個(ge)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)方框(kuang)(kuang)(kuang)，并將(jiang)復制粘貼(tie)后的(de)圖(tu)(tu)形拖入(ru)到(dao)該(gai)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)方框(kuang)(kuang)(kuang)中(zhong)——在(zai)原(yuan)圖(tu)(tu)中(zhong)添加一(yi)個(ge)帶有數字長度單位(wei)的(de)標尺（右鍵-layout-第一(yi)個(ge)）——把標尺拖入(ru)新建的(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)方框(kuang)(kuang)(kuang)，并將(jiang)它轉到(dao)新的(de)Workspace處理。

2、更清晰（導出(chu)反(fan)FFT圖然后與原(yuan)圖層疊(die)加）；疊(die)加方式：Process-Simple Math（選擇“a+b”）。