外力(li)(li)(li)撤除后在材料內部殘留的(de)應(ying)力(li)(li)(li)就(jiu)是殘余應(ying)力(li)(li)(li)。但(dan)是，習(xi)慣上將殘余應(ying)力(li)(li)(li)分(fen)為微觀應(ying)力(li)(li)(li)和(he)宏觀應(ying)力(li)(li)(li)。兩種應(ying)力(li)(li)(li)在X射線衍(yan)射譜中(zhong)的(de)表(biao)現是不相同的(de)。

微觀應力是指晶粒內部殘留(liu)的(de)應力(li)(li)，它的(de)存在(zai)，使(shi)衍(yan)射峰(feng)變(bian)寬(kuan)(kuan),而超(chao)微(wei)觀應力(li)(li)的(de)存在(zai)則會使(shi)衍(yan)射峰(feng)強(qiang)度降低。這種變(bian)寬(kuan)(kuan)通常與因為晶粒細(xi)化(hua)引起的(de)衍(yan)射峰(feng)變(bian)寬(kuan)(kuan)混雜在(zai)一起，兩者形成卷積。通過測量衍(yan)射峰(feng)的(de)寬(kuan)(kuan)化(hua)，并采用近似(si)函數(shu)法或傅立(li)葉變(bian)換方(fang)法來(lai)求得微(wei)觀應力(li)(li)的(de)大小。

宏觀應力是(shi)指(zhi)存(cun)(cun)在于多個晶(jing)體尺度(du)范圍(wei)內的(de)(de)應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)，相(xiang)對于微觀(guan)(guan)應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)存(cun)(cun)在的(de)(de)范圍(wei)而視為宏觀(guan)(guan)上存(cun)(cun)在的(de)(de)應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)。一般情況下，殘余應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)的(de)(de)術語就是(shi)指(zhi)在宏觀(guan)(guan)上存(cun)(cun)在的(de)(de)這種應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)。宏觀(guan)(guan)殘余應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)（以(yi)下稱殘余應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)）在X射(she)線衍(yan)射(she)譜上的(de)(de)表(biao)現是(shi)使峰位(wei)(wei)漂移。當存(cun)(cun)在壓(ya)應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)時(shi)，晶(jing)面(mian)間(jian)距變(bian)小，因此(ci)，衍(yan)射(she)峰向高(gao)角(jiao)度(du)偏移，反之，當存(cun)(cun)在拉應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)時(shi)，晶(jing)面(mian)間(jian)的(de)(de)距離被拉大(da)，導致衍(yan)射(she)峰位(wei)(wei)向低角(jiao)度(du)位(wei)(wei)移。通過(guo)測量樣品(pin)衍(yan)射(she)峰的(de)(de)位(wei)(wei)移情況，可以(yi)求得殘余應(ying)(ying)(ying)力(li)(li)。

cosα 法結(jie)果參考

1、尺寸：邊長(chang)大于(yu)5mm，小(xiao)于(yu)3cm，厚度小(xiao)于(yu)8mm，其(qi)他尺寸可(ke)以先寫(xie)測試單(dan)我們確(que)認。

2、XRD測(ce)得(de)是宏觀殘(can)余應力(li)，做殘(can)余應力(li)前，肯定要先做普通的XRD，且在譜圖中(zhong)可以(yi)找到(dao)一個強度較高的獨(du)立(li)的峰(feng)，且要知道該峰(feng)的晶面指數和2θ角(jiao)位置，以(yi)及該物質(zhi)的泊松比和彈(dan)性模量(liang)。

3、如果是混合物(wu)，則(ze)需每(mei)一(yi)物(wu)相滿足(zu)該條件(jian)，測(ce)出每(mei)一(yi)物(wu)相的殘余(yu)應力，在按不同的體積(ji)比進(jin)行計(ji)算整個(ge)試(shi)樣(yang)的殘余(yu)應力.

4、切割(ge)時最(zui)好手工，否則(ze)容易(yi)帶入外來的應力。

5、樣品是各向異性，那要(yao)明確測得是哪個方(fang)向（比如冷軋板按(an)照纖維(wei)方(fang)向和垂直(zhi)纖維(wei)方(fang)向殘余應力是不一(yi)樣的）。

6、有基(ji)地的薄(bo)膜樣(yang)品，樣(yang)品薄(bo)的需要掠(lve)入射XRD測試。

7、殘余(yu)應力剝層(ceng)測試、測試靶材有要求請(qing)特殊備注(zhu)。