同步輻射吸收譜（XAFS）可(ke)(ke)以(yi)(yi)分為三個(ge)部分，邊前(qian)區(qu)（Pre-edge）、近邊區(qu)(XANES)和擴展邊（EXAFS）。XANES可(ke)(ke)以(yi)(yi)得(de)到吸收原(yuan)子的(de)(de)電子結構，包(bao)括價(jia)態(tai)、對稱性(xing)、軌道占據等信息(xi)(xi)；EXAFS可(ke)(ke)以(yi)(yi)得(de)到吸收原(yuan)子周圍配位(wei)信息(xi)(xi)，包(bao)括配位(wei)原(yuan)子種類、鍵長、配位(wei)數、無(wu)序度等信息(xi)(xi)。XAFS方法(fa)不(bu)依賴晶體結構、不(bu)限制樣品形態(tai)、具有(you)元素選擇性(xing)、可(ke)(ke)得(de)到體相(xiang)平均結構信息(xi)(xi)，是研(yan)究(jiu)原(yuan)子配位(wei)環境的(de)(de)重要分析手(shou)段(duan)，是結構研(yan)究(jiu)領域的(de)(de)強(qiang)有(you)力工具！ 

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數(shu)據分(fen)析能(neng)提供的分(fen)析結果文(wen)件(jian)：

1、Origin圖(tu)(tu)：EKR空間(jian)對比圖(tu)(tu)、R和K擬合圖(tu)(tu)、和小波(bo)變換圖(tu)(tu)；

2、word報告(gao)：整理分析的結(jie)(jie)果數據、擬合(he)結(jie)(jie)果的表格(ge)等；

3、文件：提供分析后作(zuo)圖所需的數據；

4、不提供(gong)軟件處理的源文件，不提供(gong)擬合所用的cif文件。

案例(li)展示(shi)： 

1、粉(fen)末樣品(pin)最(zui)好(hao)過400目(mu)，盡(jin)量100mg以上；

2、塊(kuai)體(ti)或者(zhe)薄膜長寬1cm左(zuo)右，厚度(du)一般1mm以內(nei)，需要具(ju)體(ti)評(ping)估合適厚度(du)；

3、液體(ti)5ml，濃度越高(gao)越好(hao)（僅部分元(yuan)素可測，具體(ti)請聯系指(zhi)南(nan)針(zhen)工作人員）；

4、請提前(qian)用ICP測定樣品中元素(su)的真實含量；

5、同步輻射(she)數(shu)據分析下單連(lian)接：//www.shiyanjia.com/buffet-230.html