儀器型號: 同步輻射光源測試范圍: 同(tong)步輻(fu)(fu)(fu)射 XRD 常(chang)(chang)用于(yu)結構(gou)分(fen)析(xi)，物相(xiang)鑒定，與常(chang)(chang)規X 光相(xiang)比，同(tong)步輻(fu)(fu)(fu)射光波長在大范(fan)圍內(nei)(nei)連(lian)續可調，且準(zhun)直性好，研(yan)究的(de)尺度(du)范(fan)圍和分(fen)辨均優于(yu)常(chang)(chang)規 X 光；同(tong)步輻(fu)(fu)(fu)射 SAXS 可探測樣品內(nei)(nei)電(dian)子密度(du)起伏，研(yan)究樣品內(nei)(nei)缺陷和顆粒的(de)尺寸(cun)、形狀及其分(fen)布密度(du)。結(jie)果展示同步輻(fu)射XRD的結果為txt原(yuan)始數(shu)據(ju)，需自行做圖：樣品要求XRD或(huo)PDF可以測粉末樣品請準備至(zhi)少(shao)20mg，0.1g以上最好(hao)。需要(yao)粒度(du)(du)均(jun)勻（粒度(du)(du)在45um左右或(huo)過(guo)200目篩子），手摸(mo)無顆(ke)粒感，面粉質感；塊狀樣品要(yao)求長寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度(du)(du)5mm以下。
