項(xiang)目(mu)簡介輝光放電光譜1.測(ce)量時(shi)顯示(shi)時(shi)間-強(qiang)度曲線(xian)，是客觀的，客觀體現隨濺射時(shi)間的增加元素強(qiang)度的變(bian)化；2.測量(liang)后(hou)根據校準曲(qu)線(xian)擬合轉(zhuan)換成深度-百分含量(liang)曲(qu)線(xian)；3.本數(shu)據用ORIGIN直接導入即可(ke)，出(chu)現(xian)很多(duo)縱坐標，Y軸即為對應元素，選擇需要的元素作(zuo)圖即可(ke)（數(shu)據中(zhong)可(ke)能出(chu)現(xian)“Fi”的數(shu)據列為儀器(qi)參數(shu)請忽略(lve)） 輝光放電質譜：可得到元素(su)半定量(liang)數據。結果展(zhan)示(shi)GDOES： GDMS：樣品(pin)要求樣品尺寸：直徑2cm左右，厚度(du)0.5-2cm；粉末大(da)于2g；表面盡量(liang)光滑(hua)，粗糙度最好小于(yu)3。
