以(yi)(yi)三(san)(san)維(wei)視角在亞納(na)米(mi)尺度(du)揭示材料(liao)內(nei)部所有元素的(de)分布。針(zhen)對材料(liao)研(yan)發中(zhong)令人棘手(shou)的(de)測量和(he)分析方(fang)面(mian)(mian)難題，三(san)(san)維(wei)原子探針(zhen)為研(yan)究(jiu)(jiu)者提供原子量級分辨率的(de)材料(liao)內(nei)部結(jie)構的(de)三(san)(san)維(wei)成分圖(tu)像，分析靈敏度(du)接近百萬分之一，特別適合于(yu)研(yan)究(jiu)(jiu)納(na)米(mi)尺度(du)的(de)微(wei)小結(jie)構(沉(chen)淀、團簇、GP區等(deng)(deng))以(yi)(yi)及(ji)各種內(nei)界(jie)面(mian)(mian)(晶界(jie)、相(xiang)界(jie)、多層膜結(jie)構中(zhong)的(de)層間界(jie)面(mian)(mian)等(deng)(deng))，使(shi)用(yong)該(gai)設備可觀測和(he)研(yan)究(jiu)(jiu)元素在界(jie)面(mian)(mian)的(de)偏(pian)聚行為，微(wei)小沉(chen)淀相(xiang)的(de)尺寸、分布以(yi)(yi)及(ji)成分。

一般APT樣品(pin)的針尖尺寸。可到fib界(jie)面下單制備樣品(pin)：

 一般至少要制備(bei)2-3根針尖(jian)備(bei)用，測試過(guo)程(cheng)中針尖(jian)可(ke)能會(hui)斷（這是(shi)這個測試不(bu)可(ke)避(bi)免的風險(xian)，需要您自己承擔(dan)）